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ICP-AES等离子体发射光谱

“ICP-AES”的结构和原理

  ICP-AES基于物质在高频电磁场所形成的高温等离子体中,有良好特征谱线发射,进而实现对不同元素的测定。它具有检出限极低、重现性好,分析元素多等显著特点。附特殊装置还可以实现更多非金属元素的测量。

  “ICP-AES”的结构和原理

  等离子体发射光谱这种方法能够一起检测样品当中多个元素的含量,在氩气经过等离子体火炬的过程中,通过射频发生器发射的交变电磁场让它电离提高速度并且和别的氩原子进行碰撞,这种连锁反应让许多氩原子电离,组成原子和离子以及电子的粒子混合气体,也就是等离子体。不一样元素的原子其激发或者是电离的过程中能够发射出特征光谱,因此,等离子体发射光谱可以用做检测样品当中存在的元素。特征光谱的强和弱与样品当中等待检测元素的浓度有着较大的关系,和规范系列溶液作比较,就能够测量出样品当中每个元素的含量。这就是它的原理。

  总的来说,ICP-AES的检测是基于每种元素独特的发射光谱。而采用电感耦合等离子体的目的是因为等离子体可以达到很高的温度,有利于让元素中的原子或者离子发射出特征波长的光子(一般而言,温度越高,发射现象越明显)。

  其基本分析流程如下:

  1) 等离子体的产生:高频电流经感应线圈产生高频电磁场,使工作气体(Ar)电离形成火焰状放电高温等离子体,等离子体的最高温度可达10000 K;

  2) 样品与高温等离子体发生作用,产生发生光子:试样溶液通过进样毛细管经蠕动泵作用进入雾化器雾化形成气溶胶,由载气引入高温等离子体,进行蒸发、原子化、激发、电离,并产生辐射;

  3) 发射光谱的分析:产生的特征辐射谱线,经光栅分光系统分解成代表各元素的单色光谱,由半导体检测器检测这些光谱能量,参照同时测定的标准溶液计算出试液中待测元素的含量。

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